X射線鍍層測厚儀已成為加工業和表面工程質量檢驗的重要組成部分，是產品達到優良質量標準的必要手段。為了使我們的產品國際化，我們的出口商品和國外項目對鍍層厚度都有明確的要求。

　　X射線涂層測厚儀的主要測量方法有：楔形切割法、光切割法、電解法、厚度差測量法、稱重法、X射線熒光法、β射線背散射法、電容法、磁法、渦流測量法，在這些方法中，前五種是有損檢測，測量手段繁瑣、速度慢，多數適合抽樣檢驗。
　　X射線涂層測厚儀是用X射線激發各種物質的特征X射線，然后測量釋放的特征X射線的能量，對樣品進行定性測定，測量釋放的特征X射線的強度，并與標準膠片(或對照樣品)進行比較，得到每種物質的厚度在軟件的背景下，強度與厚度的對應關系形成一條曲線。
　　隨著各種物質強度的增加，厚度也隨之增加，但不是線性關系;通過標樣和軟件及算法，得到一條接近實際對應關系的曲線。X射線熒光是被分析樣品在X射線照射下發出的X射線，它包含了被分析樣品的化學成分信息。